Biaya : 250.000 / Sampel

Layanan ini menawarkan pengukuran sheet resistance (resistansi lembaran) pada material tipis, seperti film tipis konduktif, semikonduktor, atau lapisan resistif lainnya, menggunakan metode Four Point Probe. Teknik ini umum digunakan dalam karakterisasi material elektronik untuk mengukur resistivitas tanpa efek dari kontak listrik.

Deskripsi Layanan:

  • Metode Pengukuran: Pengukuran sheet resistance dilakukan menggunakan Four Point Probe yang terdiri dari empat jarum probe kecil yang ditempatkan sejajar di atas permukaan sampel. Arus listrik dialirkan melalui dua probe luar, sementara dua probe dalam mengukur tegangan. Metode ini meminimalkan efek dari resistansi kontak, memberikan hasil pengukuran yang lebih akurat.
  • Jenis Sampel: Layanan ini dapat digunakan untuk material seperti:
    • Film tipis logam
    • Lapisan semikonduktor
    • Material konduktif transparan
    • Lapisan resistif atau dielektrik lainnya
  • Hasil Pengukuran: Hasil pengukuran berupa nilai sheet resistance, yang dinyatakan dalam satuan ohm per square (Ω/sq). Nilai ini menunjukkan resistansi per satuan area dari lapisan material yang diuji.
  • Aplikasi Pengukuran:
    • Pengukuran sheet resistance pada film tipis untuk aplikasi elektronik.
    • Karakterisasi material konduktif dalam produksi panel surya, sensor, dan perangkat optoelektronik.
    • Kontrol kualitas dalam proses pelapisan atau deposisi material.
  • Keunggulan Metode Four Point Probe:
    • Meminimalkan resistansi kontak.
    • Pengukuran presisi tinggi.
    • Cocok untuk material dengan resistansi rendah hingga tinggi.

Layanan ini ideal bagi industri elektronika, penelitian nanomaterial, dan pengembangan teknologi semikonduktor yang memerlukan pengukuran sheet resistance dengan akurasi tinggi.

Syarat Pengajuan:

  • Syarat Pengajuan: