Biaya : 250.000 / Sampel
Layanan ini menawarkan pengukuran sheet resistance (resistansi lembaran) pada material tipis, seperti film tipis konduktif, semikonduktor, atau lapisan resistif lainnya, menggunakan metode Four Point Probe. Teknik ini umum digunakan dalam karakterisasi material elektronik untuk mengukur resistivitas tanpa efek dari kontak listrik.